news 2026/4/3 9:45:07

PCB结构热设计:内部构造、边界条件(一)

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张小明

前端开发工程师

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PCB结构热设计:内部构造、边界条件(一)

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211、985硕士,从业16年+

从事结构设计、热设计、售前、产品设计、项目管理等工作,涉足消费电子、新能源、医疗设备、制药信息化、核工业等领域。

熟练运用Flotherm、FloEFD、XT、Icepak、Fluent等ANSYS、西门子系列CAE软件,解决问题与验证方案设计,十多年技术培训经验。

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本期给大家带来的是关于PCB结构热设计研究内容,希望对大家有帮助。

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1.PCB结构对散热能力的影响

前面讲到印制电路板,即PCB的基本构造,是由铜导体和绝缘体构成。实际工程中应用的比较多的是FR4,一般认为绝缘体材质不发热,主要发热体是铜导线,铜线有电阻,通电后即发热,小电流通过时,发热问题可以忽略不计,但是当通过的电流较大时,发热问题就不可以忽略。下图是铺铜FR4材料覆铜箔铜导体铜线线宽以及截面积与允许电流之间的关系图。

根据流入印制电路板的电流大小以及允许温升范围,由上图可以确定印制导体的尺寸。上图所示为多层板内导体的导体宽度(或面积)、温升与电流之间的关系曲线。例如允许的电流大小为2A、温升为10℃、铜箔厚度为35um时,导体宽度小于2mm。对外层导体,相同的导体宽度,其工作电流可大于2倍左右。

上述方法也可以确定多层板镀覆孔的镀层几何尺寸。假设镀前孔的内径为d1、d2,孔数为n1、n2,镀层厚度为θ,则镀层截面积A为

A=n1 πθ(d1-θ)+ n2 πθ(d2-θ)(㎡)

由此式计算得出的横截面积A值应大于上图所查的A值。

当导体截面积、允许电流和温度上升值一定时,可通过增加铜箔厚度或加大线宽值两个方面来满足走线的散热要求。

2.内层铜层厚度对PCB散热能力的影响

印制导线,即铜走线,具有电阻,通过电流时将产生热量和电压降。通过导线的电流越大,温度越高。导线如果长期受热后,铜箔会因粘贴强度降低而脱落。因此,控制内层铜的温度也是十分重要的。

为了便于分析,现给出一个四层PCB,分别为TOP、MID_LAYER1、MID_LAYER14、BOTTOM。TOP和BOTTOM层的铜厚度是1.5OZ,中间两层铜厚度是0.5OZ;PCB总体厚度1.6mm,尺寸为54*42mm。IC取42、49、56、57、58个代号,封装统一为QFP,尺寸以及损耗分别如下表

编号

尺寸

损耗

封装

工作温度范围

42

13.2*13.2*7.5mm

200mw

QFN

-55~125℃

49

3.1*3.1*1.1mm

1.1mW

QFN

-55~125℃

56

9.8*4.5*1.2mm

100mW

QFN

-40~85℃

57

12*12*1.4mm

0.58W

QFN

-40~125℃

58

3*1.75*1.45mm

18.9uW

QFN

-55~125℃

通过FLOTHERM模块FLOEDA分别导入四层的LAYOUT图形(附件给出),等效处理后得到的铜走线以及IC分布(目前是随机分布)图形如下图所示,

环境温度为25@,此为方案一的情形,得出稳定后的IC温度分别为

编号

结点温度/℃

42

57.8

49

56.8

56

59.3

57

67.6

58

56.9

PCB温度分布情况如下:

方案二,将内层铜厚度改为(原先1.5OZ)0.5OZ和(原先0.5OZ)0.3OZ,同样的IC分布情况,得到的IC结点温度如下表,

编号

结点温度/℃

42

58.6

49

55.9

56

61.2

57

74.5

58

55.8

PCB温度分布情况如下:

由以上两组对比分析可知,

铜厚度减小,元器件结点温度升高,其他条件相同的情况下,铜厚度由1.5OZ减小到0.5OZ时,元器件57#温度升高7℃左右。

3. 边界条件对PCB散热能力的影响

为了便于分析,现给出一个四层PCB,分别为TOP、MID_LAYER1、MID_LAYER14、BOTTOM。TOP和BOTTOM层的铜厚度是1.5OZ,中间两层铜厚度是0.5OZ;PCB总体厚度1.6mm,尺寸为54*42mm,与前面模型一致。

边界条件的影响,主要是环境温度的变化和空气流速的变化影响,下面就这两个方面做具体的仿真对比分析。

环境温度的影响分析:

沿用上述PCB和IC模型,定义器件的工作环境温度范围为0~45℃,分0℃、10℃、25℃、45℃分别仿真分析,取其中一颗IC(57#)的结点温度和环境温度的关系如下:

可以看出,环境温度对元器件结点温度的影响成线性分布的趋势。

空气流速的影响分析:

假设环境温度是25℃,PCB用风冷冷却,风扇尺寸 40*40*15mm,风扇流量由0CFM~45CFM,分5CFM、15CFM、25CFM和45CFM四种情况,同上述方法可以得出,元器件57#结点温度随流量变化的关系,如下图所示,

空气流速的增大,元器件结温降低的很明显,所以实际工程中强迫风冷的散热措施,是一种很有效的解决元器件温度过高的办法。

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