来聊一下这个话题：
Note1: 本文适用全部的 RT10xx 和 RT1160/1170，但不一定适用 RT1180。
Note2: RT10xx （HAB v4.3） 和 RT1160/1170（HAB v4.5.5） 内部安全管理系统属于第一代 HAB。
Note3: RT1180 启用了全新安全管理系统架构 AHAB。
一、检查ROM启动日志
在分析问题前，先简单聊一下 HAB 设置，RT1064 HAB 一共三种状态（由 efuse 里的 SEC_CONFIG[1] 和 SEC_CONFIG[0] 位共同决定），其中 Closed 状态代表使能芯片严格安全检查机制。
2'b00 - FAB (Open)
2'b01 - Open (allows any code to be flashed and executed, even if it has no valid signature.)
2'b1x - Closed (Security On)
当客户启动失败问题发生的时候，我们可以通过《检查 ROM 启动日志》来初步确认问题范围，下面是从客户板子上获取到的 log 信息，从信息里看明明启动模式是 2'b10 - internal，但是它竟然直接就进入 SDP 模式了，这很异常，完全没有看到对于 boot device 的处理过程，这也进一步论证了问题和 Flash 无关。
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| Log Entry | Description |
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0x00010002: BOOTMODE_INTERNAL
0x000200cc: SEC_CONFIG_CLOSED
0x00030001: DIR_BT_DIS_VALUE1
0x00040001: BT_FUSE_SEL_VALUE1
0x000c0000: SDP_ENTRY
作为对比，我们看一下当启动模式是 2'b10 - internal 时（痞子衡用得是官方 EVK，并未烧写 HAB），但 Flash 为空导致启动失败情况的 log，这里我们能看到 PRIM_IMAGE_SELECT、PRIM_BOOTDEVICE_FLEXSPI_NOR 等信息，表明 ROM 有尝试获取 Flash 内容的动作，这才是正常的行为。
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| Log Entry | Description |
.--------------------------------------------------------------------------------------------
0x00010002: BOOTMODE_INTERNAL
0x000200f0: SEC_CONFIG_OPEN
0x00030001: DIR_BT_DIS_VALUE1
0x00040000: BT_FUSE_SEL_VALUE0
0x00050000: PRIM_IMAGE_SELECT
0x00060008: PRIM_BOOTDEVICE_FLEXSPI_NOR
0x00070000: DEVICE_INIT_CALL
0x000700f0: DEVICE_INIT_PASS
0x00090000: AUTHENTICATION_STATUS
二、检查JTAG电路
由于 RT1064 芯片里的安全系统是个黑盒子，从文档里找不到注意事项。痞子衡和负责安全的专家聊了一下，专家认为这个问题是芯片内部 SNVS 硬件先于 ROM 执行前检测到了 JTAG 电路有异常导致误触发了 security event，比如 JTAG_TRSTB 或者 JTAG_TCK 等引脚上出现 glitch，从这个角度来解释，倒是能和万分之几的失败概率对得上。
痞子衡查看了一下 RT1050_1060 硬件设计指南里关于 JTAG 电路的设计注意事项，这里强调了当切换调试接口协议从默认 SWD 换到 JTAG 时，建议量产阶段给 JTAG_TRSTB 引脚加上 4.7K 欧姆的下拉。
于是我们便让客户检查 JTAG 电路设计，得知客户用得是默认 SWD 协议，且 GPIO_AD_B0_11（JTAG_TRSTB） 用于了一般应用功能，无外部上下拉电阻。这里需要注意，即使走得是 SWD 协议，复位期间 JTAG_TRSTB 等信号出现 glitch 仍然有可能触发安全隐患（仅在 HAB closed 状态下会导致问题）。GPIO_AD_B0_07（JTAG_TCK）也是处于悬空状态，最好给这些引脚加上外部下拉（仅靠芯片内部 100K 欧姆弱下拉不一定够），降低风险（后经客户工程师确认，TCK 加外部下拉方法有效）。
在硬件设计灵活性这一块，那还得看官方 EVK 设计，上下拉选项都预留了。
